大手測定機器メーカー ニコンが認めた!!

0.1μｍ単位の溝測定がワンタッチで可能。

科学の進歩は著しく、コンピュータから精密機器など目を見張るものがあります。これらの精密な部品類は１ミクロン単位で制作されています。ところが１ミクロン台の溝測定は、従来の測定方法では煩雑で、しかも測定値のバラツキが多く、何度も測り直しを迫られ、イライラするばかりでした。
この悩みを解決するため、当社は0.1ミクロン単位の溝測定がでワンタッチで出来る測定子「ミクロタッチ」を新開発しました。
ミクロタッチをお使いになれば、作業効率は上がり、製品の精度向上につながることは間違いありません。

特許出願番号 特願平　9-176267
実用新案登録番号　第3047684号

　 ご使用上の注意

• スピンドルにはしっかりと取り付けてください。角度を変える場合は付属のワッシャー１枚で90度変わります。
• 接触点部分は焼き入れ硬度が高く、強い衝撃が加わると破損することがあります。
• 精密測定、及びカウンター測定0.5μや0.1μでご使用の場合は、温度管理、粉塵対策を行ってください。
• 接触点の摩耗で当たり巾が0.5mmを超えてきたら逃げ角6度で当たり巾0.1mm以下に研削してください。
  （当たり巾が広がると精度が出にくくなります）
• デジタルカウンタ内蔵タイプをご使用の時、取付け角度を変えたい場合は付属のワッシャーをご使用ください。１枚で90度変わります。
• スタンドによっては測長器の測定範囲が減少する可能性があります。
  

■代表的な測定機器による測定物（ワーク）端面から溝側面までの距離２３．４５６ｍｍを測定したデータの比較